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  • MEMS Probe壓電力學(xué)探測(cè)器
    MEMS Probe壓電力學(xué)探測(cè)器

    壓電力學(xué)探測(cè)器 l 彎曲導(dǎo)軌可實(shí)現(xiàn)最小傾斜度的線性運(yùn)動(dòng) l 行程范圍為1 mm l 力至100 n l 剛性和無(wú)側(cè)隙結(jié)構(gòu) l 可提供集成位置傳感器 l 壓電執(zhí)行器的使用壽命 l 理想的OEM致動(dòng)器,用于自適應(yīng)系統(tǒng)技術(shù)中的力生成,用于納米壓印工藝或機(jī)床 l 具有更長(zhǎng)行程范圍、更短響應(yīng)時(shí)間或無(wú)磁性的定制版本

    更新時(shí)間:2024-11-08型號(hào):MEMS Probe訪問(wèn)量:960
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